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RELATED ARTICLESGLOBAL CLASSIC SR三坐標測量機是標準配置的工作型測量機,完成通常的車間測量和檢測應用。 GLOBAL CLASSIC SR可配備各種觸發測頭,具備高可靠性的同時,將效率和精度集為一體,從而減少了維護費用。 GLOBAL CLASSIC SR可用于多種工業應用中,如*和終件檢測、夾具驗證和過程控制等。 對于通常的測量檢測應用,GLOBAL CLASSIC SR是一種性價比很高的解決方案,尤其對于中小型的箱體類工件而言,更是理想的測量系統。各種軟件選項,滿足不同客戶的測量需求。
產品型號: GLOBAL CLASSIC SR
GLOBAL CLASSIC SR三坐標測量機產品說明: 精確反映在每一個細節。
- 計算機輔助設計技術,包括了有限元分析(FEA)和模塊化分析,減少了由于結構的變形、振動和溫度的變化對于機器的性能造成的影響。
- 輕質量的外罩減少了整機的重量,從而提高了效率。
- 全鋁合金*剛性的框架。
- “精密三角梁"橫梁設計提高了整體的剛性。
- 質量很大、穩固的花崗石工作臺減少了振動。
- 經過精密加工整體燕尾導軌,提高了機器的精度和重復性。
- 較小的機器支架,減少了機器的高度,便于安裝在較為狹小的空間。
- 非接觸光柵尺避免了摩擦,減少了不確定度誤差。
- 調制式彈性被動減振系統和氣動式主動減振系統。
- 用由精密加工的橢圓齒形鋼絲增強同步帶,減少了在高速掃描情況下的振動。
- 電機遠程放置減少了移動質量,提高了速度,也避免了電機發熱對機器性能的影響。
- 開敞的測量空間,操作便捷性更好。
- 氣動平衡設計,提高了機器的測量性能。
- 功能強大的新型控制系統,提供了高加速度及高掃描速度。在線診斷,簡化了機器的維護。
- 可支持TESASTAR, TESASTAR-i, TP2, TP6, TP20和TP200 觸發式測頭,以及SP25M, SP600和LSP-X3, LSP-X5 掃描測頭,并包括一系列非接觸激光/光學掃描測頭。探針更換架可支持一系列探針類型,包括星形、盤形和球形探針。
- 三坐標可配備上下料系統。
- GLOBAL 測量機可配置CLIMA和ACTIV 實時結構溫度補償系統。
GLOBAL CLASSIC SR 05.07.05
性能指標:大允許誤差MPE(μm),L(mm),τ(s) | 大三維速度(mm/s) | 大三維加速度(mms2) | ||||
測頭配置 | 標準溫度范圍18-22℃ | 擴展溫度范圍16-26℃ | ||||
MPEE | MPEP | MPEE | MPEP | |||
TESASTAR-i | 2.3+3.3L/1000 | 2.3 | 2.8+4.5L/1000 | 2.8 | 520 | 1730 |
TESASTAR-P/TP20 | 2.5+3.3L/1000 | 2.5 | 2.5+4.5L/1000 | 2.5 | 520 | 1732 |
TP200 | 2.3+3.3L/1000 | 2.3 | 2.3+4.5L/1000 | 2.3 | 520 | 1732 |
GLOBAL CLASSIC SR 07.10.07
性能指標:大允許誤差MPE(μm),L(mm),τ(s) | 大三維速度(mm/s) | 大三維加速度(mms2) | ||||
測頭配置 | 標準溫度范圍18-22℃ | 擴展溫度范圍16-26℃ | ||||
MPEE | MPEP | MPEE | MPEP | |||
TESASTAR-i | 2.8+3.3L/1000 | 2.8 | 2.8+4.0L/1000 | 2.8 | 520 | 1730 |
TESASTAR-P/TP20 | 2.5+3.3L/1000 | 2.5 | 2.5+4.0L/1000 | 2.5 | 520 | 1732 |
TP200 | 2.3+3.3L/1000 | 2.3 | 2.3+4.0L/1000 | 2.3 | 520 | 1732 |